ICP-MS是(shi)什(shen)麽(me)
更新時(shi)間：2023-06-28 點(dian)擊次(ci)數(shu)：2321次
ICP-MS由高溫(wen)離子源（等離子體(ti)）、質(zhi)譜(pu)儀（通(tong)常是(shi)四(si)極(ji)桿質(zhi)量過(guo)濾器）和(he)檢測(ce)器(qi)組成(cheng)。等離子體(ti)處於大(da)氣壓下，質(zhi)譜(pu)儀和檢測(ce)器(qi)位(wei)於真(zhen)空室(shi)中，因(yin)此ICP-MS還需要壹個接口(kou)和離子透鏡(jing)傳遞離子通(tong)過系(xi)統(tong)。基本原(yuan)理：將(jiang)液體(ti)樣品(pin)泵(beng)入(ru)霧化器(qi)形(xing)成(cheng)氣溶(rong)膠(jiao)，再(zai)隨(sui)氣(qi)流進(jin)入等(deng)離子體(ti)。等離子體(ti)是(shi)壹種(zhong)高(gao)溫(wen)電(dian)火花(hua)，可(ke)蒸發樣品(pin)材(cai)料(liao)，然後使(shi)元(yuan)素原(yuan)子化和離子化。離子通(tong)過壹(yi)個(ge)接口(kou)進(jin)入真(zhen)空室(shi)，再(zai)通(tong)過離子透鏡(jing)和碰撞/反應池 (CRC) 與光(guang)子、中性(xing)粒子、幹(gan)擾(rao)離子分(fen)離。分(fen)析物離子由四(si)極(ji)桿質(zhi)量過(guo)濾器分(fen)選，每個質(zhi)量都(dou)被(bei)傳遞到檢測(ce)器(qi)進(jin)行計(ji)數(shu)。ICP-MS儀器所使(shi)用(yong)的(de)等離子體(ti)除(chu)了方位(wei)和(he)線(xian)圈接地方式(shi)外(wai)，與(yu)發(fa)射光譜(pu)中使(shi)用(yong)的(de)基本相(xiang)同。所使(shi)用(yong)的(de)質(zhi)量分(fen)析器、離子檢測(ce)器(qi)和數(shu)據采集(ji)系(xi)統(tong)又與四(si)極(ji)桿GC-MS儀器相(xiang)類似(si)。
試樣是(shi)在常壓下引入(ru)，外(wai)部離子源，即離子並(bing)不(bu)處在真(zhen)空中；等(deng)離子體(ti)的(de)溫(wen)度很(hen)高，使(shi)試(shi)樣完全蒸發和解(jie)離；試樣原(yuan)子電(dian)離的(de)百(bai)分(fen)比很(hen)高；產(chan)生(sheng)的(de)主要是(shi)壹價離子；離子能(neng)量分(fen)散小；離子源處於低電(dian)位(wei)，可(ke)配用簡(jian)單(dan)的(de)質(zhi)量分(fen)析器。正因(yin)為(wei)ICP-MS具有優(you)良(liang)的(de)分(fen)析性能(neng)，稱(cheng)為(wei)元(yuan)素分(fen)析中重(zhong)要的(de)分(fen)析技術(shu)之(zhi)壹。
ICP-MS技術(shu)具備(bei)更低的(de)檢出(chu)限(xian)、更寬(kuan)的(de)動態線(xian)性(xing)範(fan)圍、更(geng)少(shao)的(de)幹(gan)擾(rao)、較(jiao)高(gao)的(de)分(fen)析精密度和(he)分(fen)析速度等(deng)優(you)點(dian)，並(bing)可(ke)提(ti)供(gong)精(jing)確的(de)同位(wei)素信(xin)息(xi)。
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