
在土壤(rang)汙(wu)染防控與修復領(ling)域(yu),孔(kong)隙(xi)水(shui)作為(wei)汙(wu)染物遷移(yi)轉化的(de)關鍵介質(zhi),其濃度(du)分布(bu)的(de)精準(zhun)監測(ce)始(shi)終是(shi)環(huan)境科學研究(jiu)的(de)痛(tong)點(dian)。傳統取(qu)樣(yang)方法(fa)往往(wang)因(yin)破(po)壞(huai)土壤(rang)結(jie)構(gou)、無(wu)法(fa)實(shi)時(shi)觀(guan)測(ce)、空(kong)間分辨(bian)率低(di)等(deng)問題難以滿足精細化的(de)剖面分析需(xu)求。而微電極(ji)系(xi)統(tong)的(de)突(tu)破(po)性應(ying)用(yong),正(zheng)以“微創(chuang)、高精(jing)、原位(wei)"的(de)三大優勢(shi),為這壹(yi)難題提(ti)供(gong)了革(ge)命(ming)性解決(jue)方案。
土壤(rang)孔(kong)隙(xi)水(shui)的(de)異(yi)質(zhi)性(xing)特征決(jue)定了汙(wu)染物濃度(du)隨空(kong)間尺度(du)劇烈(lie)變(bian)化。傳統離(li)線(xian)取樣(yang)需(xu)通(tong)過(guo)壓(ya)榨(zha)、離(li)心(xin)等(deng)方式提(ti)取(qu)孔(kong)隙(xi)水(shui),這壹(yi)過(guo)程(cheng)不(bu)僅破(po)壞(huai)了土(tu)壤(rang)原生(sheng)結(jie)構(gou),導(dao)致(zhi)孔(kong)隙(xi)水(shui)成(cheng)分發(fa)生(sheng)物(wu)理(li)吸(xi)附(fu)、化(hua)學(xue)反(fan)應等(deng)二次(ci)變化,更因(yin)取(qu)樣(yang)點(dian)稀疏(shu)、深度(du)分辨(bian)率低(di),難以捕(bu)捉(zhuo)汙(wu)染物在毫(hao)米級尺(chi)度(du)上(shang)的(de)梯(ti)度(du)分布(bu)。微電極(ji)系(xi)統(tong)的(de)核心(xin)在於其微型(xing)化(hua)傳感(gan)器陣(zhen)列與(yu)高精(jing)度(du)定位(wei)技術(shu)。單(dan)個微電極(ji)通(tong)常由鉑(bo)、金(jin)或(huo)玻璃(li)材(cai)質(zhi)制(zhi)成(cheng),探測(ce)端(duan)直徑(jing)可達微米級,能(neng)夠(gou)直接插入(ru)土壤(rang)孔(kong)隙(xi)而不(bu)顯著(zhu)擾(rao)動周(zhou)圍(wei)環(huan)境。通(tong)過(guo)多(duo)電極(ji)陣(zhen)列(lie)組(zu)合(he)與步(bu)進(jin)電機驅(qu)動(dong),系統(tong)可(ke)沿(yan)垂(chui)直方向(xiang)進(jin)行(xing)毫(hao)米級步(bu)進(jin)掃(sao)描,同步(bu)記錄電勢(shi)、電流(liu)或(huo)光(guang)信號(hao)變(bian)化(hua),進(jin)而反演汙(wu)染物濃度(du)。
以電化(hua)學(xue)微電極(ji)為(wei)例(li),其工(gong)作原理(li)基於離(li)子選(xuan)擇(ze)性(xing)電極(ji)或(huo)伏(fu)安法(fa):當電極(ji)探測(ce)端(duan)接觸(chu)孔(kong)隙(xi)水(shui)時(shi),特定汙(wu)染物(如(ru)重金(jin)屬(shu)離(li)子、硝(xiao)酸(suan)鹽、有(you)機氯)會引發(fa)電極(ji)表面的(de)氧化還原反應(ying),產(chan)生(sheng)與(yu)濃度(du)成(cheng)正(zheng)比(bi)的(de)電流(liu)信號(hao)。通(tong)過(guo)校(xiao)準(zhun)曲線(xian)與信號(hao)處(chu)理(li)算(suan)法(fa),系統(tong)可(ke)實(shi)現(xian)高靈敏度(du)檢測(ce)。
微電極(ji)系(xi)統(tong)的(de)真正革(ge)新在於其空(kong)間分辨(bian)率的(de)突(tu)破(po)。通(tong)過(guo)精(jing)密(mi)線(xian)性滑臺電極(ji)可(ke)在土壤(rang)剖面中連續(xu)移(yi)動(dong),每毫(hao)米甚至(zhi)更小的(de)步(bu)長采(cai)集(ji)數據點(dian),最終構(gou)建(jian)汙(wu)染物濃度(du)的(de)二維分布(bu)圖譜。這種(zhong)高分辨(bian)率剖面分析為土(tu)壤(rang)修復提(ti)供(gong)了微米級的(de)精準(zhun)導航。傳統修復技(ji)術常因(yin)盲(mang)目開挖(wa)或(huo)藥劑過(guo)量(liang)導(dao)致(zhi)成(cheng)本(ben)激增(zeng)與環境風險(xian),而微電極(ji)數(shu)據(ju)可指(zhi)導(dao)修復劑的(de)空(kong)間投放(fang)策略,優化(hua)微生(sheng)物(wu)修復的(de)生(sheng)物(wu)強(qiang)化(hua)區(qu)域(yu),甚(shen)至(zhi)實(shi)時(shi)監(jian)測(ce)修復過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)濃度(du)變化(hua),動態(tai)調整方案。
